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一、頻譜分析儀是研究電信號(hào)頻譜結(jié)構(gòu)的儀器，用于信號(hào)失真度、調(diào)制度、譜純度、頻率穩(wěn)定度和交調(diào)失真等信號(hào)參數(shù)的測(cè)量，可用以測(cè)量放大器和濾波器等電路系統(tǒng)的某些參數(shù)，是一種多用途的電子測(cè)量?jī)x器。二、工作原理是輸入信號(hào)經(jīng)衰減器直接外加到混波器，可調(diào)變的本地振蕩器經(jīng)與CRT同步的掃描產(chǎn)生器產(chǎn)生隨時(shí)間作線性變化的振蕩頻率，經(jīng)混波器與輸入信號(hào)混波降頻后的中頻信號(hào)(IF)再放大，濾波與檢波傳送到CRT的垂直方向板，因此在CRT的縱軸顯示信號(hào)振幅與頻率的對(duì)應(yīng)關(guān)系。三、分類：(1)傳統(tǒng)的頻譜分析儀...

高低溫半自動(dòng)探針臺(tái)是一種用于數(shù)學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測(cè)試條件下進(jìn)行非破壞性的電學(xué)表征和測(cè)量平臺(tái)。在不同測(cè)試環(huán)境、不同溫度條件下可對(duì)微結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體器件、微電子器件及材料進(jìn)行電學(xué)特性表征測(cè)試?？梢詫?duì)材料或器件進(jìn)行電學(xué)特性測(cè)量、光電特性測(cè)量、參數(shù)測(cè)量、高阻測(cè)量、DC測(cè)量、RF測(cè)量和微波特性測(cè)量，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)（芯片、晶圓片、封裝器件）、MEMS、超導(dǎo)、電子學(xué)、物理學(xué)和材料學(xué)等領(lǐng)域。高低溫半自動(dòng)探...

半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的電子測(cè)量?jī)x器，半導(dǎo)體制造是人類迄今為止掌握的工業(yè)技術(shù)難度Z高的生產(chǎn)環(huán)節(jié)，是先進(jìn)制造領(lǐng)域上的一顆鉆石。隨著半導(dǎo)體技術(shù)不斷發(fā)展，芯片線寬尺寸不斷減小，制造工序逐漸復(fù)雜。目前國(guó)際上7nm制程已進(jìn)入產(chǎn)業(yè)化階段，需要近2000道工序，先進(jìn)的制程和復(fù)雜的工序?qū)⒊掷m(xù)提升對(duì)于先進(jìn)設(shè)備的需求。集成電路檢測(cè)根據(jù)工藝所處的環(huán)節(jié)可以分為設(shè)計(jì)驗(yàn)證、前道量檢測(cè)和后道檢測(cè)。集成電路芯片的生產(chǎn)主要分為IC設(shè)計(jì)、IC前道制造和IC后道封裝測(cè)試三大環(huán)節(jié)，狹義上對(duì)集成電...

uf200探針臺(tái)是一種用于生物學(xué)領(lǐng)域的電子測(cè)量?jī)x器，專為通用邏輯裝置而設(shè)計(jì)，支持對(duì)8英寸及8英寸以下晶圓進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，支持200um薄片的測(cè)試，測(cè)試溫度范圍從室溫到150度。它不僅繼承了UF200的基本概念，同時(shí)進(jìn)一步采用了新技術(shù)的架構(gòu)?？梢蕴峁┚AOCR自動(dòng)識(shí)別，自動(dòng)控制、與測(cè)試機(jī)聯(lián)動(dòng)對(duì)8英寸及8英寸以下晶圓進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的篩選。一、產(chǎn)品特點(diǎn)：1、它可執(zhí)行5至8英寸晶圓的傳輸與針測(cè)。2、采用和UF2000相同的MMI。3、多種選擇，可達(dá)成所有非業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)種類的晶圓針測(cè)。4、增加...

一、探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。二、特性：1、OTS-最近的位置對(duì)正系統(tǒng)(光學(xué)目標(biāo)對(duì)準(zhǔn))OTS通過(guò)對(duì)照相機(jī)相對(duì)位置的測(cè)量來(lái)保證其絕對(duì)位置的精度。這是非常引人注目的技術(shù)，來(lái)源于東京精密的度量技術(shù)。OTS實(shí)現(xiàn)了以自己為參照的光學(xué)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。2、QPU-高剛性的硅片承載臺(tái)(四方型系統(tǒng))為了有效的達(dá)到接觸位置的精度，硅片承載臺(tái)各部分的剛性一致是非常重...

射頻探針是我們?cè)跍y(cè)試時(shí)不可少的工具，主要用于電子測(cè)試設(shè)備，對(duì)硅片、管芯及開(kāi)放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應(yīng)用。射頻應(yīng)用中使用的傳輸線一般為與電路板連接的同軸線纜，以及設(shè)置于電路板內(nèi)部的微帶線。在對(duì)待測(cè)電路進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需要經(jīng)傳輸線向該待測(cè)電路發(fā)送信號(hào)。它至少需要兩種導(dǎo)體，一種為信號(hào)導(dǎo)體，另一種為接地導(dǎo)體。這些導(dǎo)體的結(jié)構(gòu)決定了待測(cè)電路測(cè)試所需的探針類型。探針結(jié)構(gòu)分為GS（接地-信號(hào)）、GSG（接地-信號(hào)-接地）以及GSSG...

一、探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針?lè)胖迷诠杈希瑥亩梢耘c測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來(lái)測(cè)試芯片/半導(dǎo)體器件?？梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過(guò)程中多次測(cè)試芯片器件undefined，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入最終產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯，這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和故障分析應(yīng)用。二、探針臺(tái)主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)...

opus探針臺(tái)通過(guò)與測(cè)試儀器的配合，探針臺(tái)將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來(lái)，在進(jìn)入后序工序前予以剔除，大大降低器件的制造成本。被廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量，并縮減了研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè)、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。如何工作？它可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測(cè)物。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針jian端放置到待測(cè)物上的正確位置。一旦所有探針jian端都被設(shè)置在正確的位置，就可以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行...