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探針臺(tái)是一種成熟的工具,用于測試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設(shè)備。它允許用戶將電子、光學(xué)或射頻探針放置在設(shè)備上,然后測試該設(shè)備對(duì)外部刺激(電子、光學(xué)或射頻)的響應(yīng)。這些測試可以很簡單,例如連續(xù)性或隔離檢查,也可以更復(fù)雜,涉及復(fù)雜微電路的全功能測試。它的應(yīng)用行業(yè)有許多,常見的包括半導(dǎo)體、光電以及集成電路等行業(yè),半導(dǎo)體企業(yè)不僅有效促進(jìn)了經(jīng)濟(jì)發(fā)展。主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測試,能夠提供磁場或變溫環(huán)境,并進(jìn)行高精度的直...
12-5
一、探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)二、從功能上來區(qū)分有:溫控探針臺(tái),真空探針臺(tái)(超低溫探針臺(tái)),RF探針臺(tái),LCD平板探針臺(tái),霍爾效應(yīng)探針臺(tái),表面電阻率探針臺(tái)三、經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型:(1)根據(jù)客戶需求定制(2)chuck尺寸:4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(3)X-Y移動(dòng)行程:4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(4)chuckZ軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離(5)顯微鏡:金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)...
11-23
芯片分選機(jī)基于最新高新科技設(shè)計(jì),可以提供高產(chǎn)出、高精準(zhǔn)度的一站式IC測試解決方案,它適合Tray入料,卷帶(Reel)出料的進(jìn)出料形式,可針對(duì)各種封裝形式的IC進(jìn)行外觀檢測。該設(shè)備已經(jīng)取得了很大的技術(shù)進(jìn)步,未來將在設(shè)備的每小時(shí)產(chǎn)能、適用的芯片封裝種類、換測時(shí)間以及系統(tǒng)的穩(wěn)定性等方面取得重要的成果。如今隨著經(jīng)濟(jì)的不斷發(fā)展,用工成本越來越高,尤其在產(chǎn)品分級(jí)方面,高昂的人工費(fèi)用讓很多工廠企業(yè)越來越吃不消。自動(dòng)化分級(jí)必將成為未來的大趨勢。反觀目前的重量分選機(jī)市場,魚龍混雜,不少有分級(jí)...
11-17
高低溫探針臺(tái)主要用于材料電學(xué)表征和測量的微型桌面型電學(xué)測量臺(tái),是專為晶片、器件和材料(薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等)提供真空和高低溫測試條件下進(jìn)行非破壞性的電學(xué)表征和測量平臺(tái)。主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測量,還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測量評(píng)估,是實(shí)驗(yàn)室測量薄膜材料電學(xué)材料常備工具,廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。性能優(yōu)勢:1、滿足各種溫度的需求:可以滿足非常高的溫度或非常低的溫度的需求,因?yàn)榫A...
11-10
emmi微光顯微鏡是利用高增益相機(jī)/探測器來檢測由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。當(dāng)對(duì)樣品施加適當(dāng)電壓時(shí),其失效點(diǎn)會(huì)因加速載流子散射或電子-空穴對(duì)的復(fù)合而釋放特定波長的光子。這些光子經(jīng)過收集和圖像處理后,就可以得到一張信號(hào)圖。撤去對(duì)樣品施加的電壓后,再收集一張背景圖,把信號(hào)圖和背景圖疊加之后,就可以定位發(fā)光點(diǎn)的位置,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)失效點(diǎn)的定位。對(duì)于故障分析而言,微光顯微鏡是一種相當(dāng)有用且效率高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中,EHPRecom...
11-4
一、介紹:(1)波形發(fā)生器是一種數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生器,在調(diào)試硬件時(shí),常常需要加入一些信號(hào),以觀察電路工作是否正常。用一般的信號(hào)發(fā)生器,不但笨重,而且只發(fā)一些簡單的波形,不能滿足需要。(2)例如用戶要調(diào)試串口通信程序時(shí),就要在計(jì)算機(jī)上寫好一段程序,再用線連接計(jì)算機(jī)和用戶實(shí)驗(yàn)板,如果不正常,不知道是通訊線有問題還是程序有問題。用E2000/L的波形發(fā)生器功能,就可以定義串口數(shù)據(jù)。通過邏輯探勾輸出,調(diào)試起來簡單快捷。二、設(shè)計(jì)原理:1.要求:產(chǎn)生頻率在1HZ--20KHZ幅度0--5V的方...
10-17
探針臺(tái)溫控是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺(tái),通過杠桿式支架,使用的是彎針探針。使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證,即使在極低溫度下,腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn),又可以防止樣品發(fā)生氧化。相比傳統(tǒng)的直針探針,這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更準(zhǔn)確,而且點(diǎn)針力度更大,和樣品的電接觸性更好。功能特點(diǎn):1、可編程精密控溫。可獨(dú)立控制,也可從上位機(jī)軟件控制;2、探針需開蓋移動(dòng),樣品臺(tái)面電接地;3、探針,分別導(dǎo)通冷熱臺(tái)外殼上的4個(gè)BNC接口;4、杠桿式探針支架,點(diǎn)針力度更大,電接觸性...
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MPI探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個(gè)可調(diào)測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,抽查測試等用途。它主要的功能就是針對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行檢測,這里面說的半導(dǎo)體元件指的是集成電路,分立器件,光電器件,傳感器等元件以及封裝的測試。通過探針臺(tái)配合測量儀器可完成集成電路的電壓,電流,電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測??梢赃m用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,抽查檢測等;可以保證這些半導(dǎo)體元件的質(zhì)量,縮短研發(fā)時(shí)間和器件...