咨詢熱線
18923898569
18923898569
追求合作共贏
Win win for you and me售前售中售后完整的服務(wù)體系
誠信經(jīng)營質(zhì)量保障價格實惠服務(wù)完善
當前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 封裝及檢測設(shè)備 > 其他設(shè)備 > 晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡
簡要描述：晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡進料的wafer，經(jīng)過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-07訪 問 量：1600詳細介紹
 | 進料的wafer，經(jīng)過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。 |
晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡性能描述：
標準配備1個Load port，單臂翻轉(zhuǎn)Robot，Pre-aligner，目檢臺和顯微鏡。
兼容8寸和12寸wafer。
標準load port可以對應(yīng)FOUP，AutoFOSB自動開蓋，具備mapping功能。
高精度運動機構(gòu)，低噪音，低塵，無需供油。
觸摸屏操作,界面友好。
晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡對應(yīng)GEM300，采用SEMI標準軟件。
公司為您提供全自動晶圓2D/3D AOI光學檢驗機的參數(shù)、價格、型號、原理等信息，全自動晶圓2D/3D AOI光學檢驗機產(chǎn)地為日本、品牌為--，型號為GBIT-WA-100，價格為面議，更多相關(guān)信息可咨詢，公司客服電話7*24小時為您服務(wù)。
產(chǎn)品咨詢