ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

HED-N5000 全自動(dòng)ESD測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)：

●可以測(cè)試多達(dá)1056 pin的器件。

●占用空間小。

●適用于ESD測(cè)試和latch-up測(cè)試，符合最新的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

●板上最多8個(gè)插座。

●符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（JEDEC，ESDA）與Hanwa S5000和Verifire插座板兼容。

公司已經(jīng)與多家世界的半導(dǎo)體器件和精密測(cè)試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括：探針臺(tái)系統(tǒng)制造商MPI；世界微波組件和測(cè)試系統(tǒng)制造商MAURY；測(cè)量?jī)x器制造商KEYSIGHT；的模型服務(wù)商Modelithics；EDS設(shè)備日本HANWA和TOTOKU等。憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測(cè)試解決方案、材料電性能測(cè)試設(shè)備、微波射頻器件測(cè)量等測(cè)試技術(shù)服務(wù)。