ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設(shè)計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

HED-W5100D 

全自動晶圓ESD測試機

l 最高支持12英寸 300mm晶圓ESD測試方案

l 測試效率高，自動探針臺和晶圓映射程序啟用了全自動晶圓級ESD測試

l 同時支持package測試

l   配備CCD相機

l   可以與Hanwa TLP測試儀，HED-T5000和T5000VF 
l   Woks 集成在一起，作為不帶插座板的高引腳數(shù)封裝級測試儀。
l   SCM（10pF浪涌）選項可用。

公司已經(jīng)與多家世界的半導體器件和精密測試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括：探針臺系統(tǒng)制造商MPI；世界微波組件和測試系統(tǒng)制造商MAURY；測量儀器制造商KEYSIGHT；的模型服務商Modelithics；EDS設(shè)備日本HANWA和TOTOKU等。憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務