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芯片ESD測試儀是保障電子設備穩(wěn)定運行的關鍵 ESD測試設備是靜電放電抗擾度與電磁輻射抗擾度測試的利器 ESD測試設備是什么原理 ESD測試介紹該如何進行ESD測試設備的試驗？

詳細介紹

ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機

HED-W5000M

晶圓ESD測試機

l 價格適中的多功能手動晶圓級測試儀。

l 專用軟件可用于泄漏測量和判斷。

l 適用于大多數類型的手動探針臺。

Wafer ESD 測試機系列

Wafer ESD 測試機產品系列

此設備是可以在Wafer level上進行HBM,MM測試的設備

產品名/型號	設備說明	設備介紹視頻
HED-W5100D	全自動 Wafer ESD測試機從LED到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer，可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后，可根據漏電流測試判斷pass/fail 并且可以與ESD測試有關聯性的TLP測試設備進行組合測試對ESD測試中發(fā)生問題的器件，能有效取得保護電路中的工作參數是滿足日本、國際標準的高可靠性設備。（滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格）	click
HED-W5000M	高性能半自動Wafer level ESD測試機通過操作探針座，可以輕松地決定兩個管腳之間的位置在印加脈沖后，可以通過漏電流測試判斷pass/fail。
HED-W5000M-SP0	Low Cost Wafer ESD Tester 低成本、高性能可通過開放控制軟件構建廣泛應用程序
HED-W5000M-WFC	Wafer level ESD測試機在對集成電路中保護電路工作參數的收集與分析上，雖然TLP測試機起到了很大的作用，但是在半導體制程細微化的發(fā)展中，為了提高對ESD的抵抗性，保護電路需要更快的研發(fā)速度 HED-W5000M-WFC測試機，因其可以觀測到被印加到器件上的實際的ESD波形，所以有助于收集、分析保護電路參數以及縮短研發(fā)速度