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HANWA HED-C5000R CDM測試設(shè)備

簡要描述：CDM測試儀,CDM測試設(shè)備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測試設(shè)備

  • 產(chǎn)品型號：
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 更新時間：2024-11-07
  • 訪  問  量：1367

詳細(xì)介紹

HANWA HED-C5000R CDM測試設(shè)備

ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-C5000R CDM測試設(shè)備

 

HED-C5000R


CDM機(jī)2


 


Hanwa CDM測試機(jī)

l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），

l 可快速轉(zhuǎn)換不同標(biāo)準(zhǔn)的測試

l   臺式尺寸，緊湊，準(zhǔn)確可靠的CDM測試儀。

l   配備的CCD攝像機(jī)

l   提供FI-CDM和D-CDM模式。

l   可以測量每個引腳的電容。

尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg  Compact Desktop Size

 

CDM 測試機(jī)

此設(shè)備是用來測試接觸不同電位物質(zhì)時的破壞性設(shè)備

產(chǎn)品名/型號 設(shè)備說明 設(shè)備介紹視頻

HED-C5000R
HED-C5000R

此設(shè)備是符合日本及國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備

（滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可通過交換放電電路組件支持日本國內(nèi)及國際的測試規(guī)格

可測量器件的各個端子的容量,測試數(shù)據(jù)可保存為文本文件形式


click

 

符合所有主要國際標(biāo)準(zhǔn)：

 

 

標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)版號

模式

校準(zhǔn)工具


1

ESDA/JEDEC

Joint Standard

AEC101/102

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


2


JEDEC


JESD22-C101F


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


3


ESDA


ANSI/ESD S5.3.1-2009


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


4


AEC


AEC - Q100-011 Rev-C1


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


5


JEITA


JEITA ED-4701/302 (Method 305C)


D-CDM

Small/Large coin(disk)

+

FR-4 board

 

image.png

 

 

 

 

 

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