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Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設(shè)備$n近年來，自動駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前先進(jìn)技術(shù)，解決自動駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性，保障汽車運(yùn)行中的安全。目前國內(nèi)尚未有關(guān)于汽車芯片可靠性的標(biāo)準(zhǔn)，而是基于國際AEC-Q100系列標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行汽車芯片可靠性測試，其中一環(huán)節(jié)就是要對汽車芯片進(jìn)行CDM和HBM的靜電相關(guān)測試。

芯片ESD測試設(shè)備,HANWA HCE-5000ESD測試機(jī)是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

傳輸線脈沖測試儀TLP,ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備

芯片ESD測試設(shè)備，HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng)，ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D 全自動晶圓ESD測試機(jī)

ESD測試設(shè)備,ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機(jī)

ESD測試設(shè)備,芯片ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機(jī)

CDM測試儀,CDM測試設(shè)備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測試設(shè)備